Este servicio está dedicado a la evaluación de componentes y sistemas electrónicos sometidos a temperaturas extremadamente bajas mediante el uso de nitrógeno líquido y control térmico asistido. Estas condiciones son esenciales para medir la respuesta de materiales, semiconductores y módulos RF ante contracción, deriva térmica, cambios en impedancia y variaciones súbitas en parámetros de ruido.
Tecnología utilizada
Mediante la integración del sistema Sun EC01 y de inyección criogénica, se logra una transición rápida hacia temperaturas bajo cero con control preciso de rampa. El controlador ETS administra los perfiles de enfriamiento y permite coordinar la medición eléctrica mientras el dispositivo se encuentra en condiciones extremas.
Objetivo del servicio
Medir cómo se comportan dispositivos electrónicos en temperaturas bajas ayuda a identificar fallas latentes, fragilidad de soldaduras, delaminación, variación en parámetros S, caída en ganancia de amplificadores, cambios en resistencia de materiales y otros fenómenos que no se manifiestan en condiciones normales de laboratorio.
Monitoreo eléctrico durante la prueba
El equipo puede ser energizado o monitoreado durante todo el proceso con VNAs, analizadores de espectro, medidores de figura de ruido, analizadores de impedancia, sistemas de medición dieléctrica, multímetros y osciloscopios de alta resolución. Esto permite comprender exactamente cómo la temperatura criogénica altera el desempeño.
Normas relacionadas
IEC 60068-2-1, IEC 60068-2-14, MIL STD 810, MIL STD 202 y criterios de pruebas de criogenia industrial aplicados en telecomunicaciones, PCB y sensores.
Entrega de resultados
El informe técnico incluye curvas de temperatura, registros eléctricos correlacionados, evidencia fotográfica, tiempos de estabilización y ajustes recomendados para diseño o selección de materiales.
